Mit der auf der internationalen Fachmesse SNEC in Shanghai im Juni 2018 erstmals vorgestellten WIS-08 hat Meyer Burger ihre Technologie- und Marktführerschaft bei der Qualitätskontrolle von Solarwafern noch einmal unterstrichen. Mittlerweile werden weltweit rund 80 Prozent aller Solarwafer mit Inspektionssystemen von Hennecke geprüft. Optimierte Anlagenverfügbarkeit, höherer Durchsatz und verbesserte Prüfqualität setzen einen neuen Massstab für Performance und Produktivität. Mit höchster Genauigkeit prüft die WIS-08 Siliziumwafer für die Photovoltaikindustrie auf Mikrorisse, Einschlüsse, Sägespuren, defekte Kanten, Dickenvariation und weitere Parameter und sortiert sie nach Qualitätsklassen. Serienmässig zum Einsatz kommt auch die Transflection-Technologie. InGaAs-Kameras entdecken dabei auch kleinste Risse im µ-Bereich.
Die neue WIS-08 ist kompatibel zu mit Diamantdraht- sowie Slurry-geschnittenen Wafern und lässt sich schnell auf alle Formate und Grössen einstellen. Neben der Stabilität und Qualität der Prüfungen punktet das System auch durch eine niedrige Wafer-Bruchrate und dem höchsten Durchsatz im Markt von 8‘000 Wafer pro Stunde bzw. 0.41 Sekunden pro Wafer. Zusammen mit Prüfstabilität, -qualität und -geschwindigkeit machen auch kundenspezifische Upgrades die WIS-08 zu einer profitablen und verlässlichen Lösung für die Qualitätskontrolle von Solarwafern.
Text: Meyer Burger
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